Das Fraunhofer Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS hat das öffentlich geförderte Projekt »SMut« gestartet, um gemeinsam mit den Partnern Credoxys und SweepMe! ein innovatives Messsystem zur präzisen Dünnfilmcharakterisierung zu entwickeln. Dieses System ermöglicht Experimente unter variablen Bedingungen und setzt neue Maßstäbe in der Charakterisierung organischer Materialien.
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