Mikroelektronik

Quantum Diamonds: QD und TU München intensivieren strategische Zusammenarbeit im Bereich Quantensensorik für Halbleiterinnovationen

13. Februar 2026. Die QuantumDiamonds GmbH, weltweit führend im Bereich Quantensensorik, vertieft ihre Zusammenarbeit mit Prof. Dr. Hussam Amrouch, Inhaber des Lehrstuhls für KI-Prozessordesign an der Technischen Universität München (TUM) und Gründungsdirektor des Münchner Zentrums für Hochtechnologie-KI-Chips (MACHT-AI). Ziel der Partnerschaft ist es, neue Wege in der Halbleiterdiagnostik zu beschreiten, wobei der Schwerpunkt auf KI-Chips und fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren liegt.

Foto: Quantum Diamonds

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Schlagworte

Forschung & Entwicklung·Halbleiter·Quantencomputing·Technologische Souveränität

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Da Chip-Designs immer kompakter, komplexer und vertikal integrierter werden, stoßen herkömmliche Werkzeuge zunehmend an ihre Grenzen hinsichtlich Auflösung, Geschwindigkeit und Nicht-Invasivität. Das Quanten-Diamant-Mikroskop (QDM) von QuantumDiamonds bietet eine hochauflösende Weitfeld-Magnetfeldbildgebung auf Basis von Stickstoff-Vakanzzentren in Diamanten und ermöglicht so die nanoskalige Stromkartierung innerhalb mehrschichtiger und heterogen integrierter Chips.

Professor Amrouch verfügt über fundierte Fachkenntnisse in den Bereichen Halbleiterzuverlässigkeit, fortschrittliche Verpackung, hocheffiziente KI-Prozessoren und fortschrittliche CMOS-Technologien, was ihn zu einem idealen Partner für die Anpassung von QDM an zukunftssichere Diagnoseworkflows für Computersysteme der nächsten Generation macht.

„Kooperationen wie diese sind genau das, was wir brauchen, um Grenzen zu verschieben“, sagte Kevin Berghoff, CEO und Mitbegründer von QuantumDiamonds. „Wenn modernstes Chipdesign auf disruptive Messtechnik trifft, ergeben sich neue Möglichkeiten. Nicht nur technologisch, sondern entlang der gesamten Halbleiter-Wertschöpfungskette.“

Die Partnerschaft unterstützt gemeinsame Ziele in den Bereichen Design-for-Diagnosis, Verifizierung von KI-Beschleunigern und skalierbare, zerstörungsfreie Tests, die für die Verbesserung der Ausbeute, der Markteinführungszeit und des Vertrauens in fortschrittliche Halbleitersysteme von entscheidender Bedeutung sind.

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