22. Juli 2025. Solarzellen und Computerchips verlangen nach möglichst perfekten Siliziumschichten. Jede Fehlstelle in der kristallinen Struktur eines Silizium-Wafers steigert das Risiko für geringere Wirkungsgrade oder fehlerhafte Schaltprozesse. Wer genau versteht, wie sich Siliziumatome auf einer dünnen Oberfläche zu einem kristallinen Gitter anordnen, gewinnt grundlegende Erkenntnisse für die Kontrolle des Kristallwachstums. Ein Forschungsteam des Helmholtz-Zentrums Dresden-Rossendorf (HZDR), der Universität Duisburg-Essen und der kanadischen University of Alberta analysierte dazu das Verhalten von Silizium, das schockartig abgekühlt wird. Die Ergebnisse zeigen, dass die Geschwindigkeit des Abkühlens einen großen Einfluss auf die Struktur von Siliziumoberflächen hat (DOI: 10.1103/rmc4-xqb3). Der zugrundeliegende Mechanismus trat vermutlich auch in Phasenübergängen im frühen Universum kurz nach dem Urknall auf.
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