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Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability
Ím Zuge der Veranstaltung bei Franhofer ENAS
Chemnitzer Seminar »Test und Zuverlässigkeit zwischen Eis und Feuer: Neue Labore und Methoden von 4 K bis 700 K.«
findet das Treffen des Arbeitskreises in Chemnitz statt.
Agenda:
09:10 - 09:35 - Introduction to Silicon Saxony and the Working Group "Test, Analysis & Reliability" | Dr. Martina Vogel, Silicon Saxony
09:35 - 10:00 - Tbd | Verhoeven Marcus, aSpect Systems GmbH
10:00 - 10:25 - Driving Innovation in Semiconductor Test: Trends, Challenges, and ATE-Evolution | Matthias Werner, Advantest Corporation
Technologie-Campus 3
09126 Chemnitz