ArbeitskreisArbeitskreis Test, Analysis & Reliability – „Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern in PV-Anlagen“Analyse | IC Design | Reliability | Silicon Saxony | Test20.11.2025 17:0020.11.2025 20:00TechnologieZentrumDresden Nord - Haus B - BesprechungsraumManfred-von-Ardenne-Ring 20 B 01099 Dresden