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Freiberg Instruments GmbH

Unternehmensart

Kleine Unternehmen (<50 Mitarbeiter:innen oder <10 Mio. Jahresumsatz)

Zielmärkte

Elektronik·Maschinen & Anlagen

Branchen

Forschung & Entwicklung·Maschinen & Anlagen·Software

Portfolio

Applikationen·Biotechnologie·Defektanalytik·Elektronik·Equipment·Erneuerbare Energien·Halbleiterindustrie·Medizintechnik / Pharma·Metrology·Physik. Messtechnik·Software·Testequipment·Umwelttechnologie

Zertifikate

Kontakt

Delfter Str. 6
09599 Freiberg
+49 3731 / 41 954 - 0

Ansprechpartner

Dr. Kay Dornich
+49 3731 41 954 - 0
Geschäftsführer

Über das Mitglied

Gegründet im Jahr 2005 als universitäres Spin-off der TU Bergakademie - The University of Resources, widmete sich Freiberg Instruments in den ersten Jahren der Entwicklung und Erprobung einer ganzen Familie von schnellen, zerstörungsfreien, elektrischen Charakterisierungsgeräten unter Produktionsbedingungen, die Parameter wie Minoritätsladungsträger-Lebensdauer, Photoleitfähigkeit und Widerstand messen.

Freiberg Instruments ist heute eines der weltweit am schnellsten wachsenden, jungen und dynamischen Unternehmen für analytische Messtechnik mit Produkten, die ein breites Spektrum von Anwendungen in Bereichen/Industrien wie Halbleiter, Mikroelektronik, Photovoltaik, Dosimetrie, medizinische Forschung, Lumineszenz-Datierung, Röntgenbeugung und Materialforschung abdecken.

Freiberg Instruments hat sein Engagement für Qualität auf die nächste Stufe gehoben und ist nun nach ISO 9001:2015 zertifiziert.

Produkte und Leistungen:

Freiberg Instruments entwickelt und produziert eine neuen Generation von zerstörungsfreien und kontaktlosen inline- Messgeräten für die Halbleiterindustrie und für Forschungseinrichtungen.
Diese Messtechniken ermöglichen erstmals die Messung elektrischer Parameter, wie Lebensdauer, Diffusionslänge und Beweglichkeit mit einer bisher nicht erreichten Empfindlichkeit. Damit kann bei hoher Ortsauflösung und hoher Messgeschwindigkeit selbst bei kleinsten Injektionsraten gemessen werden. Durch diese ungewöhnliche Kombination von Eigenschaften ist die Methode bestens für inline- Messungen geeignet.
Aufgrund der hohen Messempfindlichkeit ist es jetzt sogar möglich, dünne epitaktische Schichten, wie sie in der Chip- Produktion Anwendung finden, zu charakterisieren. Eine besondere Anwendung der Messtechnik ermöglicht die kontaktlose, zerstörungsfreie und topografische Untersuchung der Defekteigenschaften von Halbleitern.
Eine breite Palette unterschiedlichster Halbleitermaterialien kann charakterisiert werden. Die Untersuchungsmöglichkeiten erstrecken sich vom Ausgangsmaterial über Prozesse der Waferherstellung bis hin zu einer Vielfalt von Analysemöglichkeiten während der Chipproduktion bis schließlich zum fertigen Bauelement.

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