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Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability – „Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern in PV-Anlagen“

Wir treffen uns am 20. November 2025 um 17:00 Uhr – mit den interessierten Kollegen des Designer-Stammtisches zu einem gemeinsamen Meeting.

Thema: „Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern in PV-Anlagen“  

Das Treffen des Arbeitskreises findet im Besprechungsraum „B“  im Technopark Nord statt. Dies ist gegenüber der Kantine "Zum Torhaus".

Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion. Der beigefügten Agenda können Sie die konkreten Themen und die Vortragenden entnehmen.

Agenda:

17:00 Uhr // Begrüßung der Gäste durch Dr. Prischmann und Prof. Dr. Beck (TAR)

17:15 Uhr // „Der optimale Test, um Ausfälle von Leistungshalbleitern durch Feuchtigkeit in Außenanwendungen zu simulieren“ | Dipl.-Ing. Uwe Stickelmann (Senior Engineer Power Electronics - SMA Solar Technology AG)

18:00 Uhr // Pause

18:30 Uhr // „Fehleranalyse für POWER and CMOS-Technologien @ FA-Lab Infineon Dresden“ | Eckard Langner (Head of Failure Analysis Laba at Infineon Dresden AG & Co. KG)

19:15 Uhr // "Wrap-up“ // Ende



Datum

20.11.2025 17:00
20.11.2025 20:00

Kategorie

Arbeitskreis

Veranstaltungsort

TechnologieZentrumDresden Nord - Haus B - Besprechungsraum
Manfred-von-Ardenne-Ring 20 B
01099 Dresden

Veranstalter

Silicon Saxony

Ansprechpartner

Kay Eisenlöffel
kay.eisenloeffel@silicon-saxony.de
+49 351 8973-3860

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