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Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability – „Intrinsische Zuverlässigkeit und KI basierte Messungen“
Wir treffen uns am 30. November 2026 um 17:00 Uhr – mit den interessierten Kollegen des Designer-Stammtisches zu einem gemeinsamen Meeting.
Thema: „Intrinsische Zuverlässigkeit und KI basierte Messungen“
Das Treffen des Arbeitskreises findet im Besprechungsraum Z-427 im Hauptgebäude (Z) der HTW-Dresden am Hauptbahnhof statt.
Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion. Der beigefügten Agenda können Sie die konkreten Themen und die Vortragenden entnehmen.
Agenda:
17:00 Uhr // Begrüßung der Gäste durch Dr. Prischmann, Prof. Dr. Daniel Kriesten und Prof. Dr. Beck
17:15 Uhr // „Das European Test and Reliability Center (ETRC)“ | Prof. Dr. Daniel Kriesten (Fraunhofer ENAS)
17:45 Uhr // „Reliability Embedded Test Engineering (RETE)“ | Mathias Lipowski (Fraunhofer ENAS)
18:15 Uhr // Pause
18:45 Uhr // „Agentische Steuerung von Messgeräten mit KI“ | Dr. Axel Fischer (SweepMe!)
19:15 Uhr // "Wrap-up“ // Ende
Friedrich-List-Platz 1
01069 Dresden