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Arbeitskreis Test, Analysis & Reliability – „Intrinsische Zuverlässigkeit und KI basierte Messungen“

Wir treffen uns am 30. November 2026 um 17:00 Uhr – mit den interessierten Kollegen des Designer-Stammtisches zu einem gemeinsamen Meeting.

Thema: „Intrinsische Zuverlässigkeit und KI basierte Messungen“   

Das Treffen des Arbeitskreises findet im Besprechungsraum Z-427 im Hauptgebäude (Z) der HTW-Dresden am Hauptbahnhof statt.

Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion. Der beigefügten Agenda können Sie die konkreten Themen und die Vortragenden entnehmen.

Agenda:

17:00 Uhr // Begrüßung der Gäste durch Dr. Prischmann, Prof. Dr. Daniel Kriesten und Prof. Dr. Beck 

17:15 Uhr // „Das European Test and Reliability Center (ETRC)“  | Prof. Dr. Daniel Kriesten (Fraunhofer ENAS) 

17:45 Uhr // „Reliability Embedded Test Engineering (RETE)“  | Mathias Lipowski (Fraunhofer ENAS) 

18:15 Uhr // Pause 

18:45 Uhr // „Agentische Steuerung von Messgeräten mit KI“  | Dr. Axel Fischer (SweepMe!) 

19:15 Uhr // "Wrap-up“ // Ende



Datum

30.11.2026 17:00
30.11.2026 20:00

Kategorie

Arbeitskreis

Veranstaltungsort

Besprechungsraum Z-427, im Haus Z – dem Hauptgebäude der HTW-Dresden in der 4. Etage
Friedrich-List-Platz 1
01069 Dresden

Veranstalter

Silicon Saxony

Ansprechpartner

Kay Eisenlöffel
kay.eisenloeffel@silicon-saxony.de
+49 351 8973-3860

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