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VX Instruments GmbH
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84034 Landshut
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Über das Mitglied
Spitzentechnologie und Verlässlichkeit. Seit über 30 Jahren.
VX Instruments – das ist Leidenschaft für Präzision, Innovation und technische Höchstleistungen. Unsere Mess- und Testsysteme sichern weltweit die Qualität in der Halbleiterindustrie, Leistungselektronik, Automobiltechnik und Industrieelektronik – zuverlässig, präzise und oft im 24/7-Dauereinsatz.
Innovativ. Präzise. Menschlich.
Wir denken mutig und denken weiter. Jeden Tag loten wir die Grenzen des technisch Machbaren aus, um Lösungen zu schaffen, die Maßstäbe setzen.
Dabei verbinden wir tiefes technisches Verständnis mit echtem Applikations-Know-how. Durch unsere langjährige Erfahrung und enge Zusammenarbeit mit unseren Kunden verstehen wir ihre Herausforderungen im Detail – und wissen, wie man sie löst.
Wo wir herkommen
Unsere Geschichte beginnt 1989 – mit einer Idee, viel Leidenschaft und einem klaren Ziel: Messtechnik besser machen. Aus der kleinen Tüftlerschmiede „Ingenieurbüro Johann Degenhart“ wurde 1998 die VX Instruments GmbH, die sich rasch zu einem international erfolgreichen Unternehmen entwickelte.
Heute zählen die größten Technologie-Konzerne der Welt zu unseren Kunden. Wir exportieren in über 30 Länder und mehr als 500 Testsysteme mit unseren Instrumenten sind weltweit im Einsatz.
Trotz dieses Erfolgs sind wir ein Familienunternehmen geblieben, das seinen Werten und Wurzeln treu bleibt: Verlässlichkeit, Partnerschaftlichkeit, Qualität und echte Begeisterung für Spitzentechnologie.
Von Anfang an gilt: Unsere Leidenschaft für Präzision ist der Motor für Innovation.
Und genau das treibt uns auch in Zukunft an.
Das DTS8765neo ist ein voll-automatisiertes dynamisches Testsystem für Leistungshalbleiter wie z.B. Dioden, MOSFETs und IGBTs, und eignet sich für Charakterisierungsmessungen, Evaluierungsmessungen, Stichprobenmessungen sowie für den Produktionstest. Das Testsystem unterstützt eine umfassende Palette an dynamischen „Safe Operating Area“ Prüfungen sowie alle Standard-Tests nach IEC 60747-7, -8 und -9. Weitere Test Methoden sind verfügbar und lassen sich dank der offenen Schnittstelle der integrierten, modularen PXI-Plattform ganz einfach implementieren.
Herausragende Leistung: Extrem kurze Testzeiten < 30 ms | bis zu 3.000 V / 20.000 A
Ihre Vorteile:
- Extrem geringe Streuinduktivität ( bis zu 5 nH)
- Erweiterbar für statisches UND dynamisches Testen auf einer Station
- Flexibel und modular erweiterbar für alle Funktionalitäten
- Einfache Bedienung: Kann durch Bedienpersonal betrieben werden
- Geringer Flächenbedarf

Das statische Leistungshalbleiter-Testsystem STS8760neo wurde speziell für schnelle und präzise Prüfungen von mittel- bis hochleistungsfähigen Halbleiterbauelementen, wie Dioden, MOSFETs und IGBTs, über einen weiten Spannungsbereich ausgelegt. Das System unterstützt eine umfassende Palette an statischen Parameterprüfungen, wie z.B. RDS(on), DS-Leakage, GS-Leakage und DS-Breakdown. Zudem verfügt es über eine modulare PXI-Plattform mit offener Schnittstelle, die zusätzliche Prüfoptionen ermöglicht, darunter DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke und Temperatursensoren.
bis zu 10.000 V | bis zu 2.400 A | 100 µs
Ihre Vorteile:
– Kosteneffizientes Testen: Besonders schnell und multistation-fähig – sorgt für hohen Durchsatz und senkt die Testkosten
– Hohe Präzision: Das 6-Wire und Zero-Leakage Design gewährleisten genaue und reproduzierbare Ergebnisse.
– Modulare Flexibilität: Einfach anpassbar für Hochstrom- und Hochspannungs-Prüfanforderungen
