ArbeitskreisArbeitskreis Test, Analysis & Reliability – „Zuverlässigkeit von Leistungshalbleitern in PV-Anlagen“Analyse | IC Design | Reliability | Silicon Saxony | Test20.11.2025 17:0020.11.2025 20:00TechnologieZentrumDresden Nord - Haus B - BesprechungsraumManfred-von-Ardenne-Ring 20 B 01099 Dresden
SeminarSemiconductor Test Innovation ForumHalbleiter | Halbleiterprüfung | SemiconductorTesting | SemiconductorTestInnovationForum | SiliconPhotonics | SiliziumPhotonik | Test | WaferTest11.09.2025 13:0011.09.2025 17:30National Instruments Dresden GmbHAm Waldschlößchen 2 01099 Dresden