Semiconductor Test Innovation Forum

NI (National Instruments) freut sich, gemeinsam mit JENOPTIK und dem Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS das Semiconductor Test Innovation Forum – Dresden 2025 auszurichten. Die Veranstaltung findet am 11. September 2025 im NI Büro in Dresden statt.
 
Das kostenfreie, halbtägige Forum bringt Innovator:innen, Forscher:innen und Branchenexpert:innen zusammen, um die Zukunft des Halbleitertests zu beleuchten – von waferparametrischem Testen und nichtflüchtigem Speicher bis hin zu neuesten Entwicklungen in Siliziumphotonik und optischem Probing.
 
✔️ Fachvorträge von NI, Jenoptik und Fraunhofer IPMS
✔️ Deep Dives zu optischem/elektrischem Probing, Ausrichtungsstrategien & Speicher-Charakterisierung
✔️ Live-Demo: Jenoptiks UFO Probe™ Card & Fraunhofers Speicher-Charakterisierung
✔️ Austausch mit Branchenkolleg:innen, Ingenieur:innen & Vordenker:innen

Die Teilnehmerzahl ist begrenzt – sichern Sie sich jetzt einen Platz: zur Anmeldung