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Arbeitskreises Test, Analysis & Reliability – „SIC-HALBLEITERBAUELEMENTE IN TEST & ANWENDUNG“

Wir treffen uns am 11. März 2024 um 17:00 Uhr – mit den interessierten Kollegen des Designer-Stammtisches zu einem gemeinsamen Meeting.

Thema: „SiC-Halbleiterbauelemente in Test & Anwendung“ 

Das Treffen des Arbeitskreises findet im Besprechungsraum „D“  im Technopark Nord statt.

Im Anschluss an die Vorträge besteht wie immer die Möglichkeit zum Erfahrungsaustausch und zur Diskussion. In der kleinen Pause wird es einen Imbiss – gesponsort von der dataTec AG geben. Der beigefügten Agenda können Sie die konkreten Themen und die Vortragenden entnehmen.

Agenda:

17:00 Uhr // Begrüßung der Gäste | Dr. Prischmann und Prof. Dr. Beck (TAR)

17:15 Uhr // „SiC-Leistungstransistoren in Automobilanwendungen” | Dr. Armin Tilke (Project Director, Infineon Technologies Dresden)

18:15 Uhr // Vorstellung DataTec AG - Sponsor d. heutigen Meeting | Uwe Stawarz (DataTec AG - Vertrieb Elektronische Messtechnik)

18:30 Uhr // Imbiss – Pause

18:45 Uhr // Bauelemente mit bis zu 5kV/2kA charakterisieren – Hands On Demo IWATSU CS-8000 Curvetracer | M. Eng. Andreas Hohenadl (IWATSU EUROPE GmbH – Application Engineer)

19:30 Uhr // "Wrap-up“ // Ende

Datum

11.03.2024 17:00
11.03.2024 20:00

Kategorie

Arbeitskreis

Veranstaltungsort

TechnologieZentrumDresden Nord - Haus D - Besprechungsraum 401
Manfred-von-Ardenne-Ring 20
01099 Dresden

Veranstalter

Silicon Saxony

Ansprechpartner

Kay Eisenlöffel
kay.eisenloeffel@silicon-saxony.de
+49 351 8973-3860

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